因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

 　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所將根據(jù)GB/T 9797-2022相應(yīng)無機(jī)覆蓋層檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為您提供聚合物涂層、玻璃涂層、陶瓷涂層等各種無機(jī)覆蓋層檢測(cè)項(xiàng)目的檢測(cè)服務(wù)。中析研究所具備CMA資質(zhì)認(rèn)證，是一家高新技術(shù)企業(yè)，屬于正規(guī)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。我們?yōu)槟峁┍憬莸臋z測(cè)服務(wù)，常規(guī)指標(biāo)在7-15個(gè)工作日內(nèi)出具科學(xué)準(zhǔn)確的測(cè)試報(bào)告。我們的檢測(cè)周期短，檢測(cè)費(fèi)用低，確保給予您優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。

服務(wù)項(xiàng)目

　　鍍層厚度、成分、結(jié)構(gòu)、硬度、粗糙度、附著力、表面形貌、晶粒尺寸、孔隙率、電阻率、耐蝕性、耐磨性、耐熱性、耐疲勞性、耐磁性、顏色、光澤度、透明度、導(dǎo)電性、電磁屏蔽性能、抗氧化性等。

服務(wù)范圍

　　無機(jī)覆蓋層檢測(cè)一般包括：金屬鍍層、陶瓷涂層、聚合物涂層、玻璃涂層、陶瓷涂層、陶瓷涂層、電鍍涂層、噴涂涂層等。

參考標(biāo)準(zhǔn)

　　AS 1247-2004 金屬制件上金屬和其他無機(jī)覆蓋層 經(jīng)腐蝕試驗(yàn)的試驗(yàn)試樣和制件的評(píng)級(jí)

　　DIN EN ISO 2063-2005 熱噴鍍 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 鋅、鋁、及其合金

　　DIN EN ISO 3882-2003 屬和其它無機(jī)覆蓋層 厚度測(cè)量方法評(píng)述

　　DIN EN ISO 4536-1995 金屬基底上的金屬和無機(jī)覆蓋層.鹽滴腐蝕試驗(yàn)(SD試驗(yàn))

　　GB/T 3138-2015 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 表面處理 術(shù)語

　　GB/T 6461-2002 金屬基體上金屬和其它無機(jī)覆蓋層--經(jīng)腐蝕試驗(yàn)后的試樣和試件的評(píng)級(jí)

　　GB/T 6463-2005 金屬和其它無機(jī)覆蓋層 厚度測(cè)量方法評(píng)述

　　GB/T 6465-2008 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 腐蝕膏腐蝕試驗(yàn) (CORR試驗(yàn))

　　GB/T 9789-2008 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 通常凝露條件下的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)

　　GB/T 9790-2021 金屬材料 金屬及其他無機(jī)覆蓋層的維氏和努氏顯微硬度試驗(yàn)

　　GB/T 9793-2012 熱噴涂 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 鋅、鋁及其合金

　　GB/T 9797-2022 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 鎳、鎳+鉻、銅+鎳和銅+鎳+鉻電鍍層

　　GB/T 9799-2011 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 鋼鐵上經(jīng)過處理的鋅電鍍層

　　GB/T 11375-1999 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 熱噴涂 操作安全

　　GB/T 11376-2020 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 金屬的磷化膜

　　GB/T 11377-2005 金屬和其它無機(jī)覆蓋層 儲(chǔ)存條件下腐蝕試驗(yàn)的一般規(guī)則

　　GB/T 13346-2012 金屬及其它無機(jī)覆蓋層 鋼鐵上經(jīng)過處理的鎘電鍍層

　　GB/T 18179-2000 金屬覆蓋層 孔隙率試驗(yàn) 潮濕硫(硫華)試驗(yàn)

　　GB/T 19349-2012 金屬和其它無機(jī)覆蓋層 為減少氫脆危險(xiǎn)的鋼鐵預(yù)處理

相關(guān)儀器設(shè)備

　　無機(jī)覆蓋層檢測(cè)涉及的儀器包括：

　　掃描電子顯微鏡(SEM)：通過掃描樣品表面并利用電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來獲取樣品的表面形貌和成分信息。SEM常用于觀察無機(jī)覆蓋層的形貌、結(jié)構(gòu)和厚度等。

　　能譜儀(EDS或EDX)：通過測(cè)量樣品中的X射線發(fā)射譜來確定樣品的元素組成。在無機(jī)覆蓋層檢測(cè)中，EDS或EDX常用于分析覆蓋層中的元素含量和分布。

　　X射線衍射儀(XRD)：通過測(cè)量樣品對(duì)入射X射線的衍射模式來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶格參數(shù)。在無機(jī)覆蓋層檢測(cè)中，XRD可用于確定覆蓋層中晶體的相組成和結(jié)構(gòu)。

　　原子力顯微鏡(AFM)：利用探針與樣品表面之間的相互作用來獲取樣品的表面拓?fù)湫畔ⅰＴ跓o機(jī)覆蓋層檢測(cè)中，AFM可用于觀察覆蓋層的表面形貌和納米級(jí)別的特征。

　　等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES或ICP-MS)：利用等離子體激發(fā)樣品中的金屬元素，然后測(cè)量樣品中發(fā)射的特定波長(zhǎng)或質(zhì)荷比，從而確定元素的含量。在無機(jī)覆蓋層檢測(cè)中，ICP-OES或ICP-MS可用于分析覆蓋層中的金屬元素含量和雜質(zhì)。

檢測(cè)報(bào)告作用

　　1.用作銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力;

　　2.研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間;

　　3.司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù);

　　4.大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用;

　　5.投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低，準(zhǔn)確性較高;

　　6.工業(yè)問題診斷：較約定時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

檢測(cè)流程

　　1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

　　2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

　　3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

　　4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

　　5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

　　6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

　　7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

　　8、寄送報(bào)告原件